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2011 | [2011] 광학 필름 투과 산란 특성 측정 및 이를 이용한 전산 모델링 연구

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작성자 관리자 작성일18-03-09 11:55 조회32회 댓글0건

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광학 필름 투과 산란 특성 측정 및 이를 이용한
전산 모델링 연구
BRDF/BRTF Modeling Study of Optical Films
PROJECT FINISH2011년
측각기를 이용한 BSDF 측정
산란 특성 측정 장비는 측각기 방식으로 중심부에 측정하고자 하는 SAMPLE를 놓을 수 있으며 시료의 두께에 따라 상하 높이 조절이 가능하며 입사광의 각도에 따라 표면에서 투과 및 반사되는 광의 분포 특성을 측정하는 것으로 650NM 파장대의 LD광원을 이용하여 반사 산란 및 투과 산란을 측정하였다. 수광부는 반사율 분포함수 측정 시 위쪽으로, 투과율 분포함수 측정시 아래쪽으로 움직이며 방향의 산란을 측정할 수 있고, 수광부의 방위각()에 대한 데이터는 수광부를 제외한 광원과 시료스테이지가 동시에 방위각 반대방향으로 회전되어 측정된다.
<그림 1> 양방향 산란 분포함수 측정 장치 (RT-300)
 
본 연구는 위탁연구과제로 외의 내용은 보완사항임.

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